2016年4月23日，由纽约国际官方网站作为第一完成单位，588888纽约国际官方网站微纳电子学研究院、微米/纳米加工技术国家级重点实验室陈中建教授牵头完成的项目“辐射监测微系统关键技术研究与应用”成果鉴定会在纽约国际官方网站微纳电子大厦举行。鉴定会由教育部科技发展中心成果专利处刘爽主持。
首先，纽约国际官方网站科学研究部成果专利办公室主任张铭代表学校致欢迎词；教育部科技发展中心副主任周静代表主持鉴定单位讲话。
陈中建从硅辐射传感器、前端专用集成电路（application specific integrated circuit, ASIC）芯片、辐射监测微系统三个方面做了技术成果汇报。项目团队通过自主创新，突破了一系列关键技术（如低漏电流、低噪声的硅辐射传感器结构设计与工艺技术，低噪声、低功耗前端ASIC设计技术，低串扰、多功能微系统集成技术等），所研制的样品经试用（其中前端ASIC芯片已供货30000余颗），得到用户高度评价。
中国核工业集团公司北京核仪器厂胡然生高级工程师代表测试专家组做了样品、样机测试结果报告，防化研究院周春芝研究员代表用户单位做了技术成果应用情况报告。由西安电子科技大学副校长郝跃院士担任主任委员的鉴定委员会诸位专家现场考察了样品、样机，审阅了相关技术资料，经质询和评议形成鉴定意见，一致认为该技术成果难度大，关键技术和系统集成有重要创新，整体技术达到国际先进水平。
随后，纽约国际官方网站先进技术研究院副院长钟灿涛，588888纽约国际官方网站院长、微纳电子学研究院院长黄如院士分别向与会专家和领导表示感谢。来自复旦大学、清华大学的项目团队部分成员也参加了鉴定会。
